FISCHERSCOPE XDL, XDLM купить в Новосибирске по низким ценам

В приборах серии XDLM в качестве источника рентгеновского излучения используется микрофокусная трубка, позволяющая выполнять измерения на мелких структурах и улучшающая возбуждение низкоэнергетических компонентов. Кроме того, эти приборы оборудуются автоматически сменяемыми диафрагмами и фильтрами, позволяющими гибко создавать оптимальные условия возбуждения при решении различных измерительных задач. В обеих сериях детектором служит пропорциональная счетная трубка. Увеличенная площадь детектора позволяет регистрировать достаточно высокие значения скорости счета даже при малых размерах зоны измерения, что обеспечивает хорошую сходимость результатов измерения.

Приборы серий XDL и XDLM отличаются от XUL и XULM тем, что измерение в них производится снизу-вверх. Они спроектированы как удобные в использовании модульные настольные приборы, которые могут дооснащаться простой подставкой для образца, XY-платформами различных типов и вертикальными осями (Z) в зависимости от предъявляемых требований.

В модификации с программируемой XY-платформой приборы серии XDL могут использоваться для последовательного контроля изделий в автоматическом режиме. С их помощью можно легко сканировать поверхности и проверять их на предмет однородности. Для простого и быстрого позиционирования образца обеспечивается автоматическое перемещение (выдвижение) XY-платформы в загрузочное положение при открытии крышки прибора, а зона измерения обозначается лазерным указателем. Для крупных плоских образцов, таких как печатные платы, в корпусе предусмотрен С-образный боковой вырез. Благодаря измерительной камере большого объема с удобным доступом внутрь эти приборы подходят для измерений не только на плоских объектах, но и на крупных образцах сложной формы высотой до 140 мм. В приборах, оснащенных осью Z, расстояние измерения свободно устанавливается в диапазоне от 0 до 80 мм, что делает возможными измерения в выступах или на неровных объектах (с использованием метода DCM).

Дополнительные принадлежности

SOFTWARE PDM (602-419.
SOFTWARE WinFTM SUPER + PDM (602-463.
ACCESSORIES SOLUTION ANAL. Mo (603-216).

Диапазон измеряемых элементов: от Сl (17) до U(92)
Одновременный анализ до 24 элементов
Измерения проводятся сверху вниз
Детектор – пропорциональный счётчик, высокая скорость счёта
Рентгеновская трубка: микрофокусная вольфрамовая трубка с бериллиевым окном
Возможность установки напряжения источника рентгеновского излучения: 30, 40 или 50 кВ
Круглый коллиматор диаметром 0.3 мм (дополнительно: круглые коллиматоры 0.1 мм, 0,2 мм и щелевой 0,3 х 0,05 мм)
Минимальное измерительное пятно диаметром 0.2 мм; размер измерительного пятна зависит от расстояния измерения и установленного коллиматора, выводится на видеоизображение
Цветная видеокамера высокого разрешения для наблюдения в области измерения, направлена по оси первичного рентгеновского пучка; ручной и авто-фокус.
Рабочие температуры: 10 °C – 40 °C,
Температура хранения прибора: 0 °C – 50 °C
Прибор поставляется с компьютером с операционной системой Windows и программным обеспечением FISCHER WinFTM LIGHT (дополнительно: WinFTM BASIC, PDM, SUPER).

Опорная платформа для измеряемого образца:

	XDL 210	XDL 220	XDL 230	XDL 240
Исполнение	Фиксированная платформа	Фиксированная платформа	Платформа, перемещаемая вручную в плоскости XY	Платформа с программным управлением в плоскости XY
Максимальное перемещение в плоскости XY	–	–	95 х 105 мм	255 х 235 мм
Скорость перемещения в плоскости XY	–	–	–	≤ 80 мм/с
Точность позиционирования в плоскости XY	–	–	–	≤ 0,01* мм
Пространство для размещения образца	463 х 500 мм	463 х 500 мм	420 х 450 мм	300 х 350 мм
Ось Z	Фиксированное положение (наверху, посередине, внизу)	Электрическое управление	Электрическое управление	Программное управление
Перемещение по оси Z	–	140 мм	140 мм	140 мм
Максимальный вес образца	20 кг	20 кг	20 кг	5 / 20** кг
Максимальная высота образца	155 / 90 / 25 мм	140 мм	140 мм	140 мм
Лазерный индикатор для точного размещения образца	–	–	Есть	Есть

Используемый метод фундаментальных параметров позволяет анализировать образцы как в твердой, так и в жидкой фазе, а также покрытия без калибровки.

Измерительная система XDLM часто используется для измерения покрытий Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/ Ni или Sn/Ni по основам из различных материалов (например, сплавам меди или железа), роль которых играют соединители и контакты. Зачастую рабочей частью изделия служат мелкие структуры, такие как наконечники или острия, для которых необходимо использовать очень малые диафрагмы или диафрагмы специальной формы, чтобы свести к минимуму влияние геометрии образца. Например, при выполнении измерений на продолговатых образцах для получения максимальной интенсивности используют щелевые диафрагмы.