Рентгенофлуоресцентные спектрометры – толщиномеры

RST

Helmut Fischer более 50 лет разрабатывает и обеспечивает технологии экстра-класса для определения толщины покрытий, анализа состава материалов и общего тестирования свойств материалов. Продукты линии FISCHERSCOPE X-RAY уже более 25 лет являются технологическими лидерами на рынке. Постоянное совершенствование технических характеристик, закрепленное многочисленными патентами, и улучшение потребительских свойств, позволяют оборудованию FISCHERSCOPE X-RAY всегда быть на шаг впереди.

FISCHERSCOPE X-RAY

Это использование метода энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции, соответствующий стандартам ASTM B 568/ISO 3497;

Это высокоточные измерения толщины покрытий в диапазоне 100 нм до 35 мкм;

Это анализ состава материалов от Z=11 (Na) до Z=92 (U);

Это более 20 моделей оборудования – от недорогих стандартных приборов до сложных профессиональных измерительных систем;

Это простое и надежное программное обеспечение WinFTM;

Это профессиональный сервис, основанный на знаниях и практическом опыте.

Области применения:

Измерение проводников и контактных площадок на печатных платах;programm

Измерение толщин покрытий на выводах электронных компонентов;

Утилизация электронных компонентов (RoHS и WEEE);

Анализ электролитов;

Анализ элементов солнечных батарей;

Анализ ювелирных изделий;

Анализ гальванических и химических покрытий.

Программное обеспечение:

WinFTM – Fischer Thickness Measurement System for Windows – программное обеспечение самого последнего поколения. Программа обеспечивает высокую степень гибкости и предусматривает свободный выбор режимов при определении способа проведения измерений.

Аккумулируя сложнейшие математические алгоритмы и разносторонний опыт физических исследований, программа может производить оценку многослойных покрытий.

Варианты поставки:

WinFTM V.6 Light – позволяет производить анализ и измерять толщину покрытий, состоящих из 1 – 3 слоев или элементов.

WinFTM V.6 Basic – позволяет производить анализ и измерять толщину покрытий, состоящих из 1 – 24 слоев или элементов.

FISCHERSCOPE X–RAY XDAL FISCHERSCOPE XRAY XDAL

Преимуществом этого спектрометра является большая высокоточная XYZ измерительная платформа в сочетании с полупроводниковым детектором. Его высокое энергетическое разрешение обеспечивает надежные результаты анализа и измерения толщины покрытий за короткое время измерений. Благодаря направлению измерений сверху вниз, поверхности даже больших образцов могут быть просканированы и измерены.

Автоматическая оптическая фокусировка повышает степень воспроизводимости измерений.

Измерение:

•Полупроводниковый детектор, оптимальное соотношение сигнал/шум

•Микрофокусная трубка

•Большая и просторная измерительная камера, быстрая, программируемая XY-платформа

Области применения:

•Анализ материалов покрытий и сплавов (также очень тонких покрытий и растворов электролитов)

•Анализ поступающей продукции и контроль в процессе производства

•Научно-исследовательская работа

•Электронная промышленность, разъемы и контакты

•Измерение тонких покрытий из серебра и палладия при производстве печатных плат

•Анализ на микроэлементы, определение свинца для приборов "высокой надежности"

•Анализ покрытий твердых материалов

FISCHERSCOPE X–RAY XANFISCHERSCOPE XRAY XAN

Высокоэффективный спектрометр по примечательно низким ценам. Благодаря высокому энергетическому разрешению полупроводникового детектора, XAN® обеспечивает надежные результаты анализа и измерения толщины покрытий за короткое время измерений.

Благодаря конструктивному принципу «направление измерений – снизу вверх», образцы быстро и легко позиционируются.

Четыре коллиматора с автоматическим приводом позволяют работать с оптимальным для измерений измеряемым пятном.

Измерение:

•Высокопроизводительный рентгенофлуоресцентный спектрометр

•Анализ материалов и измерение толщины покрытий

•Полностью закрытая измерительная камера

•Направление измерения снизу вверх

•Высокая гибкость измерений

•Возможность обработки высоких мощностей без потери разрешающей способности энергии

•Pin-диодный счётчик

Области применения:

•Анализ драгоценных металлов и золота

•Измерение тонких покрытий (нанометрового диапазона) из серебра и палладия на печатных платах и электронных компонентах

•Анализ на микроэлементы, опасные вещеста

•Анализ легких элементов (алюминий, кремний, фосфор)

FISCHERSCOPE X–RAY XDVM–μFISCHERSCOPE XRAY XDVM

Когда задача заключается в измерении тончайших поверхностных структур на миниатюрных компонентах или печатных платах, решением является прибор XDVM®-μ.Благодаря использованию оригинального патентованного оптического отражателя рентгеновских лучей, этот прибор может генерировать лучи с очень малым измерительным пятном и высокой интенсивностью излучения. Таким образом, становятся возможными измерения структур шириной всего в несколько десятков микрон.

Измерение:

•Измерительный прибор для микроанализа

•Анализ образцов от 100 μm и менее благодаря наличию рентгеновской оптики

•Высокие мощности, высокая точность

•Даже для тонких покрытий возможная погрешность измерений составляет < 1 нм

•Подходит для измерений только плоских образцов

•Большая и просторная измерительная камера с выключателем (C-slot)

•Возможность автоматических измерений серий образцов при помощи быстрого, программируемого измерительного стола (XY-платформа)

Области применения:

•Измерение покрытий печатных плат, рамок с внешними выводами кремниевых пластин

•Измерение поверхностей компонентов малых размеров и тонких проволок

•Анализ состава материалов в образцах малых размеров

FISCHERSCOPE X–RAY XDV–SDFISCHERSCOPE XRAY XDVSD

XDV®-SD упрощает применение рентгенофлюоресцентного метода и делает его очень гибким. Сверхвысокоточная XYZ измерительная платформа с большим диапазоном перемещений делает возможными автоматические измерения тончайших структур.

Прибор идеально подходит для (серийных) измерений, контактных дорожек, печатных плат, анализа электролитов.

Измерение:

•Высокая гибкость измерений за счет размера измерительного пятна и спектрального состава

•Возможность обработки высоких мощностей,без потери разрешающей способности энергии при помощи датчика SDD (silicon drift detector)

•Очень низкие пределы обнаружения и отличная повторяемость

•Автоматические измерение серий образцов при помощи программируемого измерительного стола (X/Y - платформа)

Области применения:

•Измерение очень тонких покрытий (электронная и полупроводниковая промышленность)

•Анализ на микроэлементы, распознавание опасных веществ в соединениях (RoHS), анализ игрушек, упаковки

•Высокоточный анализ золота и драгметаллов

•Фотогальваническая промышленность

•Измерение толщины и состава NiP покрытий

FISCHERSCOPE X–RAY XDL–XDLMFISCHERSCOPE XRAY XDLXDLM

Практичный, удобный для пользователя измерительный прибор особо экономичного дизайна.

Большая измерительная камера позволяет проводить измерения крупных образцов с неправильными очертаниями поверхностей.

Метод оптически регулируемой корректировки расстояния делает возможным автоматическое

тестирование образцов сложной конфигурации.

Измерение:

•Измерение производится снизу вверх

•Большая измерительная камера с выключателем

•Стандартная рентгеновская трубка, пропорциональный счётчик

Области применения:

•Измерение тонких покрытий из золота, палладия, никеля при производстве печатных плат

•Измерение покрытий разъемов и контактов

•Измерение деталей с гальванопокрытием массового производства

•Антикоррозионные и декоративные покрытия: хром на никеле/меди

•Измерение функциональных покрытий в электронной и полупроводниковой промышленности

•Производство ювелирных изделий, золота и часов

•Анализ состава электролита

FISCHERSCOPE X–RAY XUVFISCHERSCOPE XRAY XUV

Новейшая разработка компании Helmut Fischer – рентгено-флуоресцентный спектрометр с вакуумной камерой. Позволяет анализировать элементы от Z=11 (Na) до Z=92 (U).

Программируемая измерительная платформа, видеокамера и подсветка места измерения существенно упрощают работу с прибором.

Измерение:

•Универсальный прибор премиум класса

•Измерительная камера с возможностью вакуумирования позволяет анализировать легкие элементы от Z=11 (Na)

•Автоматический контроль партий изделий при помощи прецизионного программируемого измерительного стола.

•Видеокамера для точного позиционирования образцов и для измерений маленьких образцов.

Области применения:

•Измерение легких элементов

•Измерение тонких покрытий и следов элементов

•Общий и экспертный элементный анализ

•Неразрушающий анализ драгоценных камней

•Электронная промышленность

Приборы FISCHERSCOPE XUL / XULM FISCHERSCOPE XRAY xul.xulm

Измерение:

•Измерение производится снизу вверх

•Большая измерительная камера с выключателем

•Стандартная рентгеновская трубка, пропорциональный счётчик

Области применения: 

•Измерение покрытий Au/Ni/Cu/PCB или Sn/Cu/PCB печатных плат

•Покрытия соединительных элементов и контактов в электронике

•Декоративные покрытия Cr/Ni/Cu/ABS 

•Гальванические антикоррозийные покрытия Zn/Fe, ZnNi/Fe на изделиях массового производства (винты и гайки)

•Изготовление ювелирных изделий и часов

•Определение состава электролита

Приборы FISCHERSCOPE X-RAY 4000FISCHERSCOPE XRAY 4000

Измерение:

•Для непрерывного измерения покрытий фольги, лент, штампованных образцов в процессе производства

•Измерительная головка расположена под прямым углом к плоскости перемещения образца

•Пропорциональный счетчик, полупроводниковый детектор охлаждаемый элементом Пельтье или кремниевый дрейфовый детектор (SDD)

•Устройство позиционирования

•Автоматическая калибровка

•Простая интеграция в системы управления качеством и управление производственным процессом

Области применения:

•Ленточные гальванопокрытия, например, разъемы, коннекторы, штампованные компоненты

•Измерения покрытий, оцинкованных горячим способом

•Фотогальваническая промышленность

•Металлические покрытия на фольге и лентах

•Электронная промышленность, заготовки

•Контроль производственного процесса

Приборы FISCHERSCOPE X-RAY 5000FISCHERSCOPE XRAY 5000

Измерение: 

•Измерительная головка с фланцем для непрерывного измерения в процессе производства 

•Пропорциональный счетчик, полупроводниковый детектор охлаждаемый элементом Пельтье или кремниевый дрейфовый детектор (SDD) в качестве рентгеновского детектора

•Быстрая и простая калибровка на обрабатываемой детали непосредственно в процессе производства

•Для использования в воздухе или вакууме

•Возможны измерения даже на очень горячих подложках, до 500° C (930° F)

•Максимальное удобство и прочность

Области применения:

•Фотогальваническая промышленность

•Анализ тонких покрытий на металлических лентах, фольге и пластиковой пленке

•Непрерывное производство

•Контроль производственного процесса в обработке посредством напыления и гальванопокрытия

•Измерения на больших площадях

Параметры приборов (PDF-файл) 

 

Контакты:

ООО "АСК-РЕНТГЕН Сибирь"

630099, г.Новосибирск

ул.Орджоникидзе, 40

  • Моб.: +7903 930 55 77
  • Email: Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра. ;  Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Новости