Рентгенофлуоресцентные спектрометры – толщиномеры

RST

Helmut Fischer более 50 лет разрабатывает и обеспечивает технологии экстра-класса для определения толщины покрытий, анализа состава материалов и общего тестирования свойств материалов. Продукты линии FISCHERSCOPE X-RAY уже более 25 лет являются технологическими лидерами на рынке. Постоянное совершенствование технических характеристик, закрепленное многочисленными патентами, и улучшение потребительских свойств, позволяют оборудованию FISCHERSCOPE X-RAY всегда быть на шаг впереди.

FISCHERSCOPE X-RAY

Это использование метода энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции, соответствующий стандартам ASTM B 568/ISO 3497;

Это высокоточные измерения толщины покрытий в диапазоне 100 нм до 35 мкм;

Это анализ состава материалов от Z=11 (Na) до Z=92 (U);

Это более 20 моделей оборудования – от недорогих стандартных приборов до сложных профессиональных измерительных систем;

Это простое и надежное программное обеспечение WinFTM;

Это профессиональный сервис, основанный на знаниях и практическом опыте.

Области применения:

Измерение проводников и контактных площадок на печатных платах;programm

Измерение толщин покрытий на выводах электронных компонентов;

Утилизация электронных компонентов (RoHS и WEEE);

Анализ электролитов;

Анализ элементов солнечных батарей;

Анализ ювелирных изделий;

Анализ гальванических и химических покрытий.

Программное обеспечение:

WinFTM – Fischer Thickness Measurement System for Windows – программное обеспечение самого последнего поколения. Программа обеспечивает высокую степень гибкости и предусматривает свободный выбор режимов при определении способа проведения измерений.

Аккумулируя сложнейшие математические алгоритмы и разносторонний опыт физических исследований, программа может производить оценку многослойных покрытий.

Варианты поставки:

WinFTM V.6 Light – позволяет производить анализ и измерять толщину покрытий, состоящих из 1 – 3 слоев или элементов.

WinFTM V.6 Basic – позволяет производить анализ и измерять толщину покрытий, состоящих из 1 – 24 слоев или элементов.

 


FISCHERSCOPE X–RAY XDAL 

FISCHERSCOPE XRAY XDAL

Преимуществом этого спектрометра является большая высокоточная XYZ измерительная платформа в сочетании с полупроводниковым детектором. Его высокое энергетическое разрешение обеспечивает надежные результаты анализа и измерения толщины покрытий за короткое время измерений. Благодаря направлению измерений сверху вниз, поверхности даже больших образцов могут быть просканированы и измерены.

Автоматическая оптическая фокусировка повышает степень воспроизводимости измерений. 

 

Подробнее ... 


 FISCHERSCOPE X–RAY XAN 215

xan215

Рентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер начального уровня для неразрушающего контроля и быстрого анализа, а также измерения толщины покрытий из сплавов на основе золота и серебра.

Особенности:

  • Высокая точность и долговременная стабильность работы всех приборов серии FISCHERSCOPE        X-RAY;
  • Высокая точность измерений и пороговая чувствительность прибора достигается за счёт PIN‑диодного детектора;
  • Благодаря использованию метода фундаментальных параметров в расчётах прибор анализирует образцы как в твёрдой фазе, так и в виде растворов, а также многослойные покрытия без калибровки. 

 Подробнее ...


 FISCHERSCOPE X–RAY XAN 220

xan220Энергодисперсионный рентгенфлуоресцентный спектрометр оптимизированный для анализа ювелирных изделий, монет, драгоценных металлов и стоматологических сплавов.

Используемый метод фундаментальных параметров позволяет анализировать образцы как в твердой, так и в жидкой фазе, а также покрытия без калибровки

 Области применения:

  • Ювелирные изделия, драгоценные металлы, стоматологические сплавы
  • Белое и жёлтое золото
  • Платина и серебро
  • Родий
  • Сплавы и покрытия
  • Многослойные покрытия 

Подробнее ...


FISCHERSCOPE X–RAY XAN 250 и 252

xan250-252Универсальные высококачественные энергодисперсионные рентгенфлуоресцентные спектрометры для измерения толщины покрытий и анализа материалов неразрушающим методом. Приборы оптимизированы для измерения очень тонких покрытий, в том числе сложного компонентного состава или малых концентраций.

Области применения:

  • Измерение толщины функциональных покрытий нанометрового диапазона в производстве электроники и  полупроводников.
  • Анализ на микроэлементы для защиты потребителей, в том числе на обнаружение свинца в игрушках.
  • Высокая точность при определении концентраций сплавов, необходимая в ювелирном и часовом производстве и при очистке металлов.
  • Научные исследования в высших учебных заведениях и на производстве.

 

Подробнее ... 


 FISCHERSCOPE X–RAY XAN 315

xan315Рентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер начального уровня для неразрушающего контроля и быстрого анализа, а также измерения толщины покрытий из сплавов на основе золота и серебра.

Особенности:

  • Высокая точность и долговременная стабильность работы всех приборов серии FISCHERSCOPE X-RAY;
  • Высокая точность измерений и пороговая чувствительность прибора достигается за счёт PIN‑диодного детектора;
  • Благодаря использованию метода фундаментальных параметров в расчётах прибор анализирует образцы как в твёрдой фазе, так и в виде растворов, а также многослойные покрытия без калибровки. 

Подробнее ...


FISCHERSCOPE X–RAY XAN 500

xan500 camera1Универсальный высококачественный портативный энергодисперсионный рентгенфлуоресцентный спектрометрй для измерения толщины покрытий и анализа материалов неразрушающим методом. Прибор оптимизирован для проведения контроля качества, входного контроля и промышленного контроля.

Прибор представляет собой портативный «пистолет» для быстрых и точных измерений состава и толщины покрытий на больших плоских образцах или в труднодоступных местах.

Альтернативный метод измерения предполагает размещение «пистолета» в специальном кейсе, который превращает прибор в портативный настольный прибор с полноценной измерительной камерой для безопасных и точных измерений на мелких деталях. Помимо функций компактной измерительной камеры, кейс служит транспортировочным чемоданом для «пистолета» и планшета. Кейс не входит в стандартный комплект поставки и представляет собой дополнительную опцию к прибору.

Управление прибором, настройка, оценка данных измерений производятся на планшетном компьютере под операционной системой Windows через ПО WinFTM® , что позволяет использовать весь функционал программного обеспечения для точного анализа как состава материала, так и толщины покрытий. 

Подробнее ... 


 FISCHERSCOPE X–RAY XDL 210 - 240

xdlУниверсальные энергодисперсионные рентгенфлуоресцентные спектрометры, оптимизированные для автоматизированного и неавтоматизированного измерения толщины защитных и декоративных покрытий, а также покрытий на серийно выпускаемых деталях и печатных платах.

Области применения:

  • Измерение гальванических покрытий на серийно выпускаемых деталях;
  • Контроль тонких покрытий, например, хромированных;
  • Анализ функциональных покрытий в электронной промышленности и производстве полупроводников;
  • Автоматизированные измерения, например, на печатных платах;
  • Анализ растворов в производстве гальванический покрытий.

Подробнее ... 


FISCHERSCOPE X-RAY XUL / XULM

xul-xulmРентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер с фиксированным по вертикали детектором.

В зависимости от назначения в приборах используются следующие платформы:

  1. XUL210: неперемещаемая измерительная платформа
  2. XULM 240: платформа с ручным управлением (перемещение в горизонтальной плоскости по 2-м координатам)

Особенности:

  • Несмотря на компактные размеры, спектрометры XUL оборудованы большой измерительной камерой, что позволяет производить измерения на образцах больших размеров. Отверстие в корпусе позволяет выполнять измерения на больших плоских образцах, которые невозможно разместить в измерительной камере, например, большие печатные платы 

Подробнее ... 


 FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ

xdvyСпециализированный рентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер для автоматизированных измерений:

  • толщины покрытий на очень мелких деталях;
  • анализа состава сплавов очень мелких деталей;
  • анализа структуры слоев печатных плат (для размеров печатных плат до 610х610 мм);
  • анализа очень тонких покрытий (напр. золото на палладии толщиной до ≤ 0.1 мкм);
  • определения толщины и состава в сложных многослойных системах покрытий 

Подробнее ... 


 GOLDSCOPE

goldsope1Энергодисперсионные рентгенфлуоресцентные спектрометры серии GOLDSCOPE были специально разработаны для быстрого, точного, неразрушающего анализа сплав изделий из драгоценных металлов, а так же для измерения толщины золотых покрытий на серебряных изделиях и родиевых покрытий на золотых изделиях.

Дизайн:

GOLDSCOPE SD: Настольный измерительный прибор, защитная крышка в область измерения открывается вперед.

GOLDSCOPE SD Pro, SDD, SDD Pro: Настольный измерительный прибор, защитная крышка открывается вверх.

Области применения:

  • Ювелирные изделия, драгоценные металлы, стоматологические сплавы
  • Белое и жёлтое золото
  • Платина и серебро
  • Родий
  • Сплавы и покрытия

Подробнее ... 


FISCHERSCOPE X–RAY XDV–SSD  

xdv-ssdРентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер с высокоточной программируемой X/Y платформой, возможностью перемещения по оси Z, измерительным и высокопроизводительным вычислительным модулем.  

Это универсальный прибор для широкого круга задач.

Предназначен для автоматизированных измерений очень тонких покрытий, малых концентраций элементов, микроэлементов, сплавов, электролитов.

Области применения:

  • измерения очень тонких покрытий (напр., золото/палладий ≤ 0,01 мкм);
  • анализ микроэлементов, в том числе на печатных платах;
  • измерение сложных многослойных покрытий;
  • измерения в ювелирной промышленности;
  • измерения функциональных покрытий в электронной и полупроводниковой промышленности;
  • автоматизированные измерения (напр., в контроле качества).

Подробнее ... 


 

 

 

 

 

Контакты:

ООО "АСК-РЕНТГЕН Сибирь"

630099, г.Новосибирск

ул.Орджоникидзе, 40

  • Моб.: +7903 930 55 77
  • Email: Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра. ;  Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Новости